Seria SX sondy pola bliskiego - LANGER
EMC i BHP > SONDY POLA BLISKIEGO > Zestawy sond LANGER
Sondy i przyrządy LANGER EMV na YouTube
Rodzina produktów SX składa się z dwóch magnetycznych sond bliskiego pola i jednej sondy pola E. Sondy te są dostępne w zestawie SX1
POBIERZ BROSZURĘ - Zestaw sond pola bliskiego SX
Zestaw SX1Near-Field Probes 1 GHz up to 10 GHz
Zestaw SX1 składa się z trzech pasywnych sond bliskiego pola do pomiaru pól E i pól magnetycznych o wysokiej częstotliwości taktowania od 1 GHz do 10 GHz na zespołach elektronicznych i układach scalonych w fazie rozwoju. Różne głowice sondujące zestawu SX1 pozwalają na pomiary bardzo blisko zespołów elektronicznych, np. na pojedynczych pinach IC, ścieżkach przewodzących, komponentach i złączach, w celu zlokalizowania źródeł zakłóceń. Orientację pola i rozmieszczenie pola elektronicznego można wykryć poprzez specyficzne użycie sondy bliskiego pola. Sondy bliskiego pola są małe i poręczne. Mają one bieżącą osłonę tłumiącą i dlatego są ekranowane elektrycznie. Można je podłączyć do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω. Mają wewnętrzny opór dopasowujący impedancję.
![](images/2015.08.24-SX-1-en_wPZ.webp)
Zestaw zawiera:
1x SX-E 03, E-Field Probe 1 GHz do 10 GHz
1x SX-B 3-1, H-Field Probe 1 GHz do 10 GHz
1x SX-R 3-1, H-Field Probe 1 GHz do 10 GHz
1x SMA-SMA 1 m, przewód pomiarowy SMA-SMA
1x obudowa 4, Przypomnienia systemowe w pobliżu pola
![](images/2014.01.20.-SX-A-262-w.webp)
Parametry techniczne:
Zakres częstotliwości 1 GHz - 10 GHz
Złącze SMA, żeńskie, jack
Waga 200 g
Sondy w zestawie:
![](images/Disturbance-emission_near-field-probe_SX-E-03_function_en_wPZ.webp)
SX-E 03 - Sonda E-Field 1 GHz do 10 GHz
Przy wymiarach 4x4 mm elektroda znajdująca się pod spodem głowicy sondy SX-E 03 jest bardzo kompaktowa. Pozwala to na lokalizację bardzo małych źródeł pola E, np. na ścieżkach przewodzących, pojedynczych komponentach lub na płytkach drukowanych.
![](images/Disturbance-emission_near-field-probe_SX-B-3-1_function_en_wPZ.webp)
SX-B 3-1 - Sonda H-Field 1 GHz do 10 GHz
Cewka pomiarowa sondy S-3-1 H-field jest ustawiona pod kątem 90 ° względem korpusu sondy. Po ustawieniu głowicy sondy pionowo, cewka pomiarowa dotyka bezpośrednio powierzchni płytki z obwodem drukowanym.
![](images/Disturbance-emission_near-field-probe_SX-R-3-1_function_en_wPZ.webp)
SX-R 3-1 - Sonda H-Field 1 GHz do 10 GHz
Dzięki małej głowicy sond SX-R 3-1 może wykrywać pole magnetyczne RF o bardzo wysokiej rozdzielczości i dlatego może identyfikować nawet najmniejsze komponenty jako źródła interferencji. Ponadto mała głowica sondy jest zaprojektowana tak, aby umożliwić pomiary w mniej dostępnych obszarach, np. w pobliżu pinów IC.
![](images/sx-r20.webp)
Zestaw SX-R 20-1
BROSZURA - Zestaw SX-R 20-1
● Wysoka rozdzielczość
● Analiza emisji
● Do 20 GHz
Zestaw SX-R 20-1 składa się z pasywnej sondy bliskiego pola do pomiaru pól magnetycznych o wysokiej częstotliwości taktowania do 20 GHz w zespołach elektronicznych i układach scalonych na etapie opracowywania.
Orientację pola i rozkład pola zespołu elektronicznego można wykryć dzięki specjalnemu zastosowaniu sondy bliskiego pola.
Wszystkie różne sondy bliskiego pola SX są małe i poręczne. Mają osłonę tłumiącą prąd i dlatego są ekranowane elektrycznie. Można je podłączyć do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω.